木村睦研の修了生の論文が出版されました。IEEE Electron Device Letters は、Impact Factor = 3.753 の権威ある論文誌です。

K. Imanishi, T. Matsuda and M. Kimura, “Analysis of Carrier Mobility in Amorphous Metal-Oxide Semiconductor Thin-Film Transistor using Hall Effect,” in IEEE Electron Device Letters, doi: 10.1109/LED.2020.2993268.
https://ieeexplore.ieee.org/document/9090179